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PSU 目次
★デモ可能スライド 青色下線 No.1〜11 |
形成工程
|
No |
プロセス |
ステップ |
数 |
内容 |
スライドNo |
|
|
オープニング |
|
|
学習概要 |
1 |
|
|
表示ボタン説明 |
|
|
機能ボタン |
2 |
1.表面処理 |
ST |
表面処理開始 |
|
|
目次 |
3 |
1 |
ナンバリング |
前洗浄 |
1 |
RCA |
5 |
レーザーマーク |
2 |
レーザー |
6 |
後洗浄 |
3 |
RCA |
7 |
2 |
表面酸化 |
前洗浄 |
4 |
HF |
8 |
酸化 |
5 |
Dry酸化 |
9 |
3 |
酸化除去 |
ウェット洗浄 |
6 |
HF |
10 |
PA |
プロセス開始の前処理 |
6ステップ |
|
|
11 |
2.セル分割離層 形成 |
ST |
セル分離層 開始 |
|
|
目次 |
|
4 |
ライト酸化 |
前洗浄 |
1 |
RCA+HF |
12 |
酸化 |
2 |
Dry酸化 |
14 |
5 |
SiN4-CVD |
LP-CVD |
3 |
LP-Si3N4 |
15 |
6 |
フォトリソ |
レジスト塗布 |
4 |
|
17 |
露光 |
5 |
|
現像 |
6 |
|
7 |
Si3N4-ドライエッチング |
ドライエッチ |
7 |
|
18 |
後処理 |
8 |
|
8 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
9 |
|
19 |
後洗浄 |
10 |
RCA |
20 |
9 |
Si-ドライエッチング |
ドライエッチ |
11 |
|
21 |
後処理 |
12 |
|
10 |
Si3N4除去 |
ウェット洗浄 |
13 |
熱燐酸 |
22 |
11 |
ラウンド酸化 |
前洗浄 |
14 |
RCA+HF |
23 |
酸化 |
15 |
Dry酸化 |
12 |
SiO2-CVD |
前洗浄 |
16 |
RCA |
24 |
CVD |
17 |
TEOS |
後洗浄 |
18 |
裏面スクラバー |
25 |
13 |
SiO2-ドライエッチング |
ドライエッチ |
19 |
|
26 |
後処理 |
20 |
|
14 |
SiO2-CMP |
COMP |
21 |
|
27 |
後処理 |
22 |
|
PA |
LOCOS分離 |
22ステップ |
|
|
28 |
3.ゲート形成 |
ST |
ゲート電極 開始 |
|
|
目次 |
29 |
15 |
表面酸化 |
前洗浄 |
1 |
RCA+HF |
31 |
酸化 |
2 |
Dry酸化 |
16 |
SiO除去 |
ウェット洗浄 |
3 |
HF |
32 |
17 |
ゲート酸化 |
前洗浄 |
4 |
RCA+HF |
33 |
酸化 |
5 |
パイロ酸化 |
18 |
ゲート-CVD(doped) |
LP-CVD |
6 |
doped-polysi |
34 |
19 |
SiO2-CVD |
LP-CVD |
7 |
|
35 |
20 |
ゲートフォトリソ |
レジスト塗布 |
8 |
|
36 |
露光 |
9 |
|
現像 |
10 |
|
21 |
SiO-ドライエッチ |
ドライエッチ |
11 |
|
37 |
後処理 |
12 |
|
22 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
13 |
|
38 |
後処理 |
14 |
RCA |
23 |
ゲートドライエッチング |
ドライエッチ |
15 |
|
39 |
後処理 |
16 |
|
PA |
16ステップ |
|
|
|
40 |
4.ソース/ドレン形成 |
ST |
ソース/ドレン開始 |
|
|
目次 |
41 |
24 |
Nフォトリソ |
レジスト塗布 |
1 |
|
43 |
露光 |
2 |
|
現像 |
3 |
|
25 |
イオン注入 |
Nインプラ |
4 |
|
44 |
後処理 |
5 |
アニール |
26 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
6 |
|
45 |
後洗浄 |
7 |
RCA |
27 |
Pフォトリソ |
レジスト除去 |
8 |
|
46 |
露光 |
9 |
|
現像 |
10 |
|
28 |
イオン注入 |
Pインプラ |
11 |
|
47 |
後処理 |
12 |
アニール |
29 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
13 |
|
48 |
後洗浄 |
14 |
RCA |
30 |
SiO2スペーサー-CVD |
前洗浄 |
15 |
RCA |
49 |
LP-CVD |
16 |
|
31 |
SiO2-ドライエッチ |
ドライエッチ |
17 |
|
50 |
後処理 |
18 |
|
32 |
Nカウンターフォトリソ |
レジスト塗布 |
19 |
|
51 |
露光 |
20 |
|
現像 |
21 |
|
33 |
イオン注入 |
Nインプラ |
22 |
|
52 |
後処理 |
23 |
アニール |
34 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
24 |
|
53 |
後洗浄 |
25 |
RCA |
35 |
Pカウンターフォトリソ |
レジスト除去 |
26 |
|
54 |
露光 |
27 |
|
現像 |
28 |
|
36 |
イオン注入 |
Pインプラ |
29 |
|
55 |
後処理 |
30 |
アニール |
37 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
31 |
|
56 |
後洗浄 |
32 |
|
PA |
LDD構造 |
32ステップ |
|
|
57 |
5.第1層間膜 形成 |
ST |
第1層間膜 開始 |
|
|
目次 |
58 |
38 |
SiO2-CVD |
前洗浄 |
1 |
RCA |
60 |
CVD |
2 |
P-TEOS |
後洗浄 |
3 |
裏面スクラバー |
39 |
アニール |
熱処理 |
4 |
N2 |
61 |
40 |
SiO2-CMP |
CMP |
5 |
|
62 |
後洗浄 |
6 |
|
PA |
配線の下地膜 |
6ステップ |
|
|
63 |
6.第1コンタクト形成 |
ST |
第1コンタクト 開始 |
|
|
目次 |
64 |
41 |
第1コンタクト−フォトリソ |
レジスト塗布 |
1 |
|
66 |
露光 |
2 |
|
現像 |
3 |
|
42 |
第1コンタクト−ドライエッチ |
ドライエッチ |
4 |
|
67 |
後処理 |
5 |
|
43 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
6 |
|
68 |
後洗浄 |
7 |
|
44 |
コンタクト-CVD |
CVD |
8 |
TiW |
69 |
後洗浄 |
9 |
裏面スクラバー |
45 |
CVD-ドライエッチ |
ドライエッチ |
10 |
|
70 |
後処理 |
11 |
|
46 |
メタル-CMP |
CMP |
12 |
|
71 |
後洗浄 |
13 |
|
PA |
トランジスタの引出し配線 |
13ステップ |
|
|
|
7.第1配線 形成 |
ST |
第1層配線 開始 |
|
|
目次 |
73 |
47 |
メタル-CVD |
前洗浄 |
1 |
|
75 |
前処理 |
2 |
|
CVD |
3 |
|
後洗浄 |
4 |
|
48 |
1層メタル−スパッタ |
前洗浄 |
5 |
BHF |
76 |
前処理 |
6 |
|
スパッタ |
7 |
AI |
49 |
フォトリソ |
レジスト塗布 |
8 |
|
77 |
露光 |
9 |
|
現像 |
10 |
|
50 |
メタル−ドライエッチ |
ドライエッチ |
11 |
|
78 |
後処理 |
12 |
|
51 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
13 |
|
79 |
後洗浄 |
14 |
RCA |
PA |
金属(AlSi)配線 |
14ステップ |
|
|
80 |
8.第2コンタクト形成 |
ST |
第2コンタクト 開始 |
|
|
目次 |
81 |
52 |
SiO2-CVD |
前洗浄 |
1 |
RCA |
83 |
CVD |
2 |
P-TEOS |
後洗浄 |
3 |
裏面スクラバー |
53 |
アニール |
熱処理 |
4 |
N2 |
84 |
54 |
SiO2-CMP |
CMP |
5 |
|
85 |
後洗浄 |
6 |
|
55 |
第2コンタクト−フォトリソ |
レジスト塗布 |
7 |
|
86 |
露光 |
8 |
|
現像 |
9 |
|
56 |
第2コンタクト−ドライエッチ |
ドライエッチ |
10 |
|
87 |
後処理 |
11 |
|
57 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
12 |
|
88 |
後洗浄 |
13 |
RCA |
PA |
第2層配線用窓 |
13ステップ |
|
|
89 |
9.第2層配線 形成 |
ST |
第2層配線 開始 |
|
|
目次 |
90 |
58 |
2層メタル−スパッタ |
前洗浄 |
1 |
BHF |
92 |
前処理 |
2 |
|
スパッタ |
3 |
AI |
59 |
フォトリソ |
レジスト除去 |
4 |
|
93 |
露光 |
5 |
|
現像 |
6 |
|
60 |
メタル−ドライエッチ |
ドライエッチ |
7 |
|
94 |
後処理 |
8 |
|
61 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
9 |
|
95 |
後洗浄 |
10 |
RCA |
PA |
金属(AlSi)配線 |
13ステップ |
|
|
96 |
10.保護膜形成 |
ST |
保護膜 開始 |
|
|
目次 |
97 |
62 |
SiO2-CVD(doped) |
前洗浄 |
1 |
RCA |
99 |
CVD |
2 |
BPSG |
後洗浄 |
3 |
裏面スクラバー |
63 |
アニール |
熱処理 |
4 |
N2 |
100 |
64 |
Si3N4-CVD |
P-CVD |
5 |
P-Si3N4 |
101 |
後処理 |
6 |
|
65 |
パッシベーション塗布 |
PIQ |
7 |
|
102 |
66 |
アニール |
H2アニール |
8 |
H2 |
103 |
PA |
窒化膜・PIQ膜 |
8ステップ |
|
|
104 |
11.引き出し窓 形成 |
ST |
引き出し窓 開始 |
|
|
目次 |
105 |
67 |
フォトリソ |
レジスト塗布 |
1 |
|
107 |
露光 |
2 |
|
現像 |
3 |
|
68 |
ドライエッチ |
ドライエッチ |
4 |
|
108 |
後処理 |
5 |
|
69 |
レジスト除去 |
アッシャー除去 |
6 |
|
109 |
後洗浄 |
7 |
RCA |
PA |
保護幕をカット |
7ステップ |
|
|
110 |
|
LSI製造の概要 |
設計・製造・製品使用 |
111 |
合計 |
69 |
|
147ステップ |
|
|
|
1)スライドNo.の欠番について
11ある形成工程のスライドは2つのスライドが統合されており、
若い番号が表示されております。スライドNo.の合計は111-11=100となります。 |
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